- Merilnik materialov za merjenje debeline večplastnih struktur
- Idealen je za merjenje debeline nanosov na nekovinskih podlagah, kot so plastični deli, les ali steklo, pa tudi za določanje debeline kovinskih osnovnih materialov in nanosov
- Večslojne meritve (do 3 plasti)
- Prikaz valovne oblike
- Nastavljiva hitrost zvoka
- 21 prednastavljenih materialov
- Možnost neprekinjenega merjenja
- Notranji pomnilnik za 999 nizov podatkov
- Barvni zaslon IPS
- Programska oprema za PC in izvoz podatkov
- Debelina materiala 300 ... 14800 µm, ločljivost 1 µm
- Debelina plasti 13 ... 5500 µm, ločljivost 1 µm
- Vrsta senzorja: ultrazvočni, 15 MHz
- Min. merilna površina 6 mm
- Dolžina kabla 75 cm
- Pomnilniški medij: notranji pomnilnik
- Vmesnik: USB-C
- Nastavljiva hitrost zvoka: 1000 ... 9999 m/s
- Vgrajena polnilna baterija
- Instrument PCE CT 1000
- Standardna plošča
- Kabel USB-C
- Kovček za prenašanje
- Kontaktni gel
- Programska oprema za PC (v razdelku za prenos)
- Navodila za uporabo
Naziv: PCE CT 1000
Proizvajalec: PCE
Uvoznik: MICOM ELECTRONICS d.o.o.
Država porekla: N/A